日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所(簡稱產(chǎn)綜研)與Sustainable Titania Technology公司(簡稱STi)合作，日前共同開發(fā)出了可抑制PID(Potential Induced Degradation，電勢誘導(dǎo)衰減)現(xiàn)象的技術(shù)，這種現(xiàn)象會降低太陽能電池模塊的輸出功率。此項新技術(shù)只需在玻璃基板上涂布低價位材料即可實現(xiàn)，因此作為解決PID問題的技術(shù)值得期待。

應(yīng)用了新開發(fā)技術(shù)的模塊(右)與普通模塊(左)的截面構(gòu)造

試制模塊的外觀與PID試驗結(jié)果

　　此次開發(fā)的技術(shù)，是在構(gòu)成太陽能電池模塊的玻璃基板上，涂布氧化鈦(TiO2)類復(fù)合金屬化合物薄膜，并進行干燥，然后在200～450℃的溫度下加熱燒制約15分鐘。涂布作業(yè)采用了“刮板法”(doctor brade method)，將包含原料的溶液滴在基板上，然后使用金屬刀片和金屬棒等均勻地涂布在整個基板面上。

　　產(chǎn)綜研與STi在外形尺寸為18cm×18cm的太陽能電池模塊上應(yīng)用此次開發(fā)的技術(shù)，并進行了PID試驗(-1000V、85℃、2個小時)，結(jié)果顯示，試驗前后轉(zhuǎn)換效率的降幅很小。而普通的模塊，試驗前后轉(zhuǎn)換效率會從15.9%大幅降至0.6%。產(chǎn)生PID現(xiàn)象的主要原因是玻璃中的鈉離子等擴散，而采用新技術(shù)后，這種擴散被薄膜阻斷，因此轉(zhuǎn)換效率降幅很小。

　　產(chǎn)綜研與STi今后將優(yōu)化薄膜的材質(zhì)、膜厚和成膜條件等，進一步提高抑制PID現(xiàn)象的效果。同時，還將探明抑制PID現(xiàn)象的原理、采用大面積模塊進行試驗等。

　　詳細情況將在2013年6月4日～5日于筑波國際會議中心舉行的“2013產(chǎn)綜研光伏發(fā)電工學(xué)研究中心成果報告會”上公布。