整個(gè)標(biāo)準(zhǔn)框架包含正文和附錄，其中正文由八個(gè)章節(jié)組成，正文后增加了三個(gè)技術(shù)性附錄，詳見圖4所示。標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容上從雙面光伏組件室內(nèi)I-V特性測試方法到室外I-V特性標(biāo)定方法，延伸至電站現(xiàn)場測試方法及典型環(huán)境下長期戶外實(shí)證方法，為雙面光伏組件的全方位評(píng)價(jià)提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支撐。

圖4 標(biāo)準(zhǔn)框架

03架構(gòu)完整內(nèi)容詳實(shí) 建立完整質(zhì)量鏈條

本標(biāo)準(zhǔn)主體思路是建立雙面組件室內(nèi)條件和真實(shí)環(huán)境下的功率標(biāo)定、單面參數(shù)和雙面參數(shù)的明示要求、現(xiàn)場條件下快速驗(yàn)證與典型環(huán)境下長期實(shí)證的多維度可追溯的完整質(zhì)量鏈條。相關(guān)內(nèi)容概述如下：

a. 不同等效輻照度下I-V特性參數(shù)測試

根據(jù)國內(nèi)外對(duì)雙面組件及陣列長期研究實(shí)踐情況來看，雙面組件的I-V輸出特性受到如下因素影響：

Ø 背面輻照強(qiáng)度來源及測量：太空散射、地面反射、其他臨近物體反射、背面直接輻射；
Ø 背面不均勻性影響因素：相鄰組件的遮擋、不同的反射地面、安裝高度；
Ø 性能測試影響因素：地面反射率、安裝方式（安裝傾角、安裝高度）、方位角、臨近組件和陣列間的影響、組件自身透光率等。

圖5 不同反射背景與背面輻照度關(guān)系（來源NREL）

圖6 陣列分布與背面輻照度關(guān)系（來源NREL）