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ASM可再生能源硅片檢測分選技術(shù)榮獲太瓦級鉆石獎

2016-06-17 11:21:47 太陽能發(fā)電網(wǎng)
  在近期召開的SNEC光伏展上, ASM 可再生能源(ASM AE)又一次榮獲太瓦級鉆石大獎,進一步鞏固其技術(shù)引領(lǐng)地位。太瓦級鉆石獎是由展會主辦方頒發(fā)的“十大亮點”的最高獎項,今年ASM AE獲獎產(chǎn)品為SolarWIS LITE硅片檢測分選系統(tǒng),而Eclipse金屬化平臺在去年也榮獲該太瓦級鉆石大獎。   “連續(xù)獲得行業(yè)榮譽并不是偶然的!
  在近期召開的SNEC光伏展上, ASM 可再生能源(ASM AE)又一次榮獲太瓦級鉆石大獎,進一步鞏固其技術(shù)引領(lǐng)地位。太瓦級鉆石獎是由展會主辦方頒發(fā)的“十大亮點”的最高獎項,今年ASM AE獲獎產(chǎn)品為SolarWIS LITE硅片檢測分選系統(tǒng),而Eclipse金屬化平臺在去年也榮獲該太瓦級鉆石大獎。

  “連續(xù)獲得行業(yè)榮譽并不是偶然的!盇SM AE業(yè)務(wù)發(fā)展副總裁 Brian Lau先生談到公司技術(shù)的長期獲獎歷史時說道!斑@一切關(guān)乎于創(chuàng)造力,對工藝的深入了解以及對提升電池效率的太陽能解決方案的承諾,從而得以發(fā)展耐用、可持續(xù)使用的可替代能源系統(tǒng)。我們非常感謝評委對ASM AE SolarWIS市場貢獻的認可,并且頒予太瓦級鉆石大獎。”
  SolarWIS LITE是入門級的硅片分選設(shè)備,配備先進的3D面積式檢測系統(tǒng),可對硅片厚度、總厚度偏差(TTV)、線痕以及硅片彎/翹曲度進行檢測。與傳統(tǒng)上使用3條激光束或者3電容感應(yīng)器檢測太陽能電池硅片厚度的方法不同,3D檢測系統(tǒng)可以對整片硅片進行檢測,反映真實的厚度分布特征。SolarWIS LITE更全面的檢測方法能夠降低破片帶來的良率損失,它能夠辨別傳統(tǒng)技術(shù)無法輕易發(fā)現(xiàn)的不合格薄片區(qū)。
  SolarWIS LITE可升級增加多個檢測功能,如:隱裂、污染、崩邊、尺寸、電阻和少子壽命。除了可擴展SolarWIS LITE功能以外,分選倉還可輕松地從6+1擴展至12+1。每臺設(shè)備還標(biāo)準(zhǔn)配備能夠容納800片硅片的堆疊式裝載器,使得每小時可檢測和分選的硅片峰值達到3600片!
  ASM 可再生能源高級銷售經(jīng)理陳志明先生代表公司領(lǐng)取了該項大獎,他評論道:“SolarWIS LITE是太陽能電池制造商的明智之選。這項技術(shù)降低了投資門檻,避免設(shè)備過早遭到淘汰,并且可以根據(jù)不同的運營和財務(wù)狀況向全自動檢測分選進行無縫過渡。”

  欲知更多信息,請訪問www.asm-ae.com

作者: 來源:太陽能發(fā)電網(wǎng) 責(zé)任編輯:wutongyufg

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